The Role of Ion Properties in Reflectron System Design for Time-of-Flight Mass Spectrometry: A SIMION Simulation-Based Investigation
4-6 Mayıs 2023 tarihleri arasında düzenlenen 6. PAKTURK Konferansı'nda sunulan çalışmamın tam metnine "Buradan" ulaşabilirsiniz. Bu çalışma, reflektron uçuş süresi kütle spektrometrisi (ReTOF-MS) sisteminin kütle çözünürlüğü üzerindeki etkiyi inceleyerek, iyon ve reflektron parametrelerinin optimizasyonunun önemini vurgulamaktadır. Ayrıca, uygulamalı spektrometri ve analitik kimya alanlarında çalışan araştırmacılar için önemli bir bilgi kaynağı olabilir ve daha gelişmiş kütle analiz yöntemlerinin geliştirilmesine katkıda bulunabilir.
Bu çalışma, çoklu iyon ve reflektron parametrelerinin reflektron uçuş süresi kütle spektrometrisi (ReTOF-MS) sisteminin kütle çözünürlüğü üzerindeki etkisini araştırmayı amaçlamaktadır. Yüklü parçacık optik simülasyon yazılımı olan SIMION, sistemdeki reflektron ve elektrooptik bölümlerinde iyon davranışını simüle etmek için kullanılmıştır ve elektrotlar ile reflektronun geometrik parametrelerini değiştirerek sistem tasarımını optimize etmek için kullanılmıştır. Özellikle, iyon enerjisi (IE), doğum konumu (BP), istatistiksel dağılım (SD) ve kütle (m) gibi iyon parametrelerinin sistemdeki kütle çözünürlüğü (R) üzerindeki etkisi değerlendirilmiştir. Ayrıca, reflektron geometrisi, elektrot konumu ve şekli ile uygulanan voltajlar gibi çeşitli reflektron parametrelerinin etkisi incelenmiştir. Simülasyonlar geniş bir iyon ve reflektron parametreleri aralığını kapsamış ve bu parametrelerin sistem kütle çözünürlüğü üzerindeki etkileri hakkında bilgi vermiştir. Bulgular, bir uçuş süresi kütle spektrometrisi sisteminin reflektron ve elektrooptik tasarımının optimize edilmesinin gerekliliğini vurgulamaktadır.
Yorumlar